Wafer-ID-Lesegerät MV-SC6500P-AI-WID-IBN

Das HikRobot Wafer-ID-Lesegerät MV-SC6500P-AI-WID-IBN ist ein KI-gestütztes Wafer-Identifikationssystem mit integrierter NIR-Lichtquelle (Nahinfrarot) für besonders licht- oder reflexionssensible Wafer-Materialien. Es liest SEMI-OCR-Zeichen, Data-Matrix-, QR- und Barcodes auf Wafern in Halbleiterfertigung und -forschung.

Die NIR-Beleuchtung ermöglicht die Identifikation bei schwierigen Oberflächenreflexionen und ist ideal für polierte oder beschichtete Wafer. Montagehöhe: 40-50 mm, Sichtfeld: 38 × 15 mm, automatischer Fokusmodus, Betriebstemperatur: 0 bis 40 °C.

Die Gigabit-Ethernet-Schnittstelle (1000 Mbit/s) verbindet das Wafer-ID-Lesegerät direkt mit dem Host-System. Der 6-polige P7-Stecker stellt Stromversorgung, digitale Ein-/Ausgänge und RS-232 bereit. Betriebsspannung: 24 VDC, Leistungsaufnahme: typisch Typ. 11.5 W @ 24 VDC.

Das robuste Gehäuse mit Schutzart IP40 ist für den industriellen Dauerbetrieb ausgelegt. Die kompakten Abmessungen von 127 mm × 69 mm × 49 mm (5" × 2.7" × 1.9") und ein Gewicht von Ca. 829 g (1.8 lb.) ermöglichen die Integration auch in beengte Maschinenkonstruktionen. Betriebstemperaturbereich: 0 °C bis 40 °C, Lagertemperatur: -30 °C bis 70 °C.

SC6500P Wafer-ID-Lesegerät, Mono, Kombinierte NIR-Lichtquelle

- Setzt KI-Deep-Learning-Algorithmen ein: SEMI-OCR, Data-Matrix, QR-Code und Barcode

- Integriert Vision Master Plattform und SCClient-Software - kein externer PC erforderlich

- Mehrere Beleuchtungsmethoden (Hellfeld und Dunkelfeld) per Software konfigurierbar

- Automatischer Fokusmodus und definierte Montagehöhe für reproduzierbare Ergebnisse

- Unterstützt TCP, UDP, MODBUS, PROFINET, EtherNet/IP und weitere Protokolle

- Status-Anzeigen für Betrieb, Netzwerk und System erleichtern Inbetriebnahme

- Schutzart IP40, kompakte Bauform: 127 × 69 × 49 mm

HikRobot SC6500P-Serie KI-Smart-Kamera

Das HikRobot SC6500P-Wafer-ID-Lesegerät ist ein hochspezialisiertes KI-Inspektionssystem für die Halbleiterproduktion. Es unterstützt alle gängigen Wafer-Identifikationsstandards und ist auf den Einsatz in vollautomatischen Wafer-Handling-Systemen ausgelegt. Die integrierte Vision Master Plattform mit Deep-Learning-Modul ermöglicht zuverlässiges Lesen selbst anspruchsvoller Markierungen unter variablen Bedingungen.

Umfangreiche KI-Funktionen - speziell für die Halbleiterindustrie

Unterstützt mehrere Trigger-Modi und flexible Kommunikationsprotokolle für die nahtlose Integration in Wafer-Handling-Systeme.

*Die hier dargestellten Daten können je nach Umgebung, Objekten und weiteren Faktoren variieren. Die GK VISION GmbH übernimmt keine Verantwortung für daraus resultierende Konsequenzen im Zusammenhang mit den verkauften Produkten der verschiedenen Hersteller.